半導體測試行業的倡導者和領導者-提供專業半導體測試解決方案
 
 
銷售電話:020-31375051 020-37097519 13544546431 聯系人:方濱 
 
傳真:020-35686363   郵箱:[email protected]  QQ號:1014747857 
   
  產品目錄
-四探針測試儀
-金屬四探針測試儀
-手持方塊電阻測試儀
-導電類型鑒別儀
-少子壽命測試儀
-二探針測試儀
-C-V測試儀
-恒流源
-探針臺
-探針頭
-探針
-粉末壓片機
-測試軟件
 
熱賣、最新產品
RTS-8四探針測試儀
RTS-9四探針測試儀
RTS-4四探針測試儀
RTS-5四探針測試儀
金屬四探針測試儀
手持式四探針測試儀
便攜式四探針測試儀
RTS-7二探針測試儀
LT-2少子壽命測試儀
PN-12導電類型鑒別儀

PN-30導電類型鑒別儀

ST-21方塊電阻測試儀
CV-5000(CV測試儀)
ST-102A探針臺
FT-202四探針探頭
行業應用
太陽能電池
半導體工藝
電子元器件
功能材料
 
 
LT-2
型單晶少子壽命測試儀



 

 
   LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。半導體材料的少數載流子壽命測量,是半導體的常規測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內的各種類型硅單晶,以及經熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
   本儀器根據國際通用方法高頻光電導衰退法的原理設計,由穩壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結構緊湊、測量數據可靠。
技 術 指 標
 測試單晶電阻率范圍  >2Ω.cm
 可測單晶少子壽命范圍  5μS~7000μS
 配備光源類型  波長:1.09μm;余輝<1 μS;
 閃光頻率為:20~30次/秒;
 閃光頻率為:20~30次/秒;
 高頻振蕩源  用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
 前置放大器  放大倍數約25,頻寬2 Hz-1 MHz
 儀器測量重復誤差  <±20%
 測量方式  采用對標準曲線讀數方式
 儀器消耗功率  <25W
 儀器工作條件  溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz
 可測單晶尺寸  斷面豎測:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
 縱向臥測:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
 配用示波器  頻寬0—20MHz;
 電壓靈敏:10mV/cm;
   
下載LT-2型單晶少子壽命測試儀產品資料(PDF)  
   
返回單晶少子壽命測試儀產品目錄  
   
   
 

敬告用戶:因我司生產的測試儀器在行業的知名度顯著,最近市場上出現假冒偽劣或山寨我司的產品,部分冒牌的儀器上甚至冒用我司”廣州四探針科技有限公司“和“四探針科技”的名稱,有的廠家有意或者無意間在公司介紹中暗示帶有“四探針科技”的名稱www.gpoowp.live是我司唯一的官方網址,我司從來沒有注冊過以任何4probes其它后綴的域名網址,有的廠家為了混淆視聽,注冊了以4probes為后綴的其它網址。甚至有的廠家還以我司生產的產品型號RTS-8四探針測試儀、RTS-9雙電測四探針測試儀等暢銷的產品型號在搜索平臺作為關鍵字進行推廣,然后指向他們的網站。請各大用戶注意,如果用戶是通過中間商購買我司產品的,最好來電我司咨詢此中間商是否為我司授權的經銷商,已購買儀器的用戶可來電我司進行核實。對于相關公司生產冒牌我司產品帶來侵犯我司名稱、商標、知識產權的產品,我司將追究其違法、違規相關的經濟和法津責任。

 廣州四探針科技官方網站
©1998-2019 廣州四探針科技有限公司 版權所有
d历史号码查询