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SP-601型方形四探針探頭

    SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,專用于測量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
◆ 特性及規格
1
 特制之手握式探筆
2
 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3
 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數據集成模塊燒壞
4
 探頭使用壽命長
5
 探針間距:1.59mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
 
◆ SP-601型方形四探針探頭規格
型號
(Model)
曲率半徑
(Radius)
壓力
(loads)
探針間距
(spacing)
探針排列
(Arrangement)
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形
 
下載SP-601型方形四探針探頭產品資料(PDF)
   
   
 

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