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ST-21
 
 
 
    ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
    該儀器以大規模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數,使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
◆ 特點
1
 采用大規模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩定,低功耗;
2
 以大屏幕LCD顯示讀數,直觀清晰;
3
 采用單個電池供電,帶電池欠壓指示;
4
 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5
 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6
 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 技術指標:
測量范圍
 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔:
  1.方塊電阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方塊電阻 10.0~1999.9Ω/□;
 最小分辨率:0.01Ω/□
恒流源
 測量過程誤差:≤±0.8%
模數轉換器
 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕顯示;極性,超量程均自動顯示;小數點同步顯示;
測量不確定度
 在整個量程范圍內,測量不確定度≤5%
四探針探頭規格
 間距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
電源
 9V疊層電池1節
 
◆ ST-21方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格
型號
(Model)
曲率半徑
(Radius)
壓力
(loads)
探針間距
(spacing)
探針排列
(Arrangement)
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直線
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直線
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直線
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直線
 
◆ ST-21方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規格
型號
(Model)
曲率半徑
(Radius)
壓力
(loads)
探針間距
(spacing)
探針排列
(Arrangement)
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形
 
下載ST-21型方塊電阻測試儀產品資料(PDF)
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